PS08 電子後方散乱回折法による疲労損傷検出のための最適結晶パラメータの検討(ポスターセッション)

抄録

本研究では,EBSDデータを解析するためにC言語プ口グラムを使用して塑性ひずみと疲労損傷定量化のための新しいパラメータを考案することを試みた.その結果,塑性ひずみを定量化するためのパラメータである結晶変形量C_dを基に,結晶粒の結晶粒界に面するデータ点と結晶粒の中心方位との方位差を平均した値である新たなパラメータBC_dを考案した.塑性ひずみと低サイクル疲労損傷の定量化を行うにあたり,このパラメータBC_dの適用性について検討した.