2P1-2F-E7 輝線追従制御を用いた高感度外観検査技術

抄録

感光体の外観検査において, 回転振れや振動に伴う輝線変動をエリアセンサで検出し, 検査用ラインセンサ位置を追従制御した。この結果, ラインセンサを高感度な位置に保持でき, 微小凹凸欠陥の検出能力を向上できた。