東海支部総会講演会講演論文集
Online ISSN : 2424-2748
セッションID: 224
会議情報

シータ管ナノピペットを用いた走査型イオン伝導顕微鏡による試料表面帯電を相殺した計測法の開発
*白澤 樹江口 由祐水谷 祐輔牛木 辰男岩田 太
著者情報
キーワード: SICM, Charged sample, Nanopipette
会議録・要旨集 認証あり

詳細
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2017 一般社団法人 日本機械学会
前の記事 次の記事
feedback
Top