精密工学会誌論文集
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論文
RIEを用いた単結晶シリコン加工面クラックの新しい検出法
横溝 精一窪田 真一郎宇野 義幸
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2005 年 71 巻 10 号 p. 1291-1295

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抄録

品質や信頼性向上のため, 硬脆材料のマイクロクラック検出法が求められている. 従来の腐食液を用いたウェットプロセスは等方性エッチングであるため, マイクロクラックが明瞭に検出できなかった. 異方性エッチングが可能なドライプロセスの反応性イオンエッチング (RIE) を用いることにより, 微細なクラックが明瞭に検出できることがわかった.

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© 2005 公益社団法人 精密工学会
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