日本惑星科学会秋季講演会予稿集
日本惑星科学会2005年秋季講演会予稿集
セッションID: 1420
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標準試料法による主要元素分析精度の向上とSELENE搭載XRSへの応用
*細野 梢白井 慶荒井 武彦小川 和律岡田 達明加藤 學
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抄録

SELENEに搭載する蛍光X線分光計(XRS)には、既知組成の標準試料が搭載されている。標準試料から得られるX線スペクトルと月面から得られるX線スペクトルとの比較により、太陽活動度や検出器の特性への依存性の小さい比較分析が可能となり、月表層の元素組成の決定精度が向上する。 本研究ではXRS用に標準試料法による比較分析方法を構築し、模擬室内実験による検証を試みた。標準試料法による比較分析方法から求めた組成比の精度を評価した結果を報告する。

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© 2005 日本惑星科学会
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