[R-535] イオン顕微鏡を用いた高解像度解析<BR>[R-536] グラフェン様二次元物質の人工積層構造

表面科学

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先端追跡

[R-535] イオン顕微鏡を用いた高解像度解析
[R-536] グラフェン様二次元物質の人工積層構造

ジャーナルフリー

2014 年 35 巻 5 号 p. 273

DOI https://doi.org/10.1380/jsssj.35.273

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