紙パ技協誌
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製紙技術特集II
欠陥検査システムの技術動向
鈴木 聡
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2016 年 70 巻 10 号 p. 1014-1016

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抄録

アメテック・サーフェースビジョンによる表面検査事業は,1990年Isys Control社の設立とともにスタートした。当時としては画期的な完全デジタル処理による高機能な検査システムを開発し,おもに金属の表面検査向けに販売を開始。その後,マシンビジョンのリーディング・カンパニーであるコグネックス社の一事業部として,高機能かつ汎用の検査システム「SmartView(スマート・ビュー)」を開発し,2000年以降,紙パルプ業界における検査事業を展開してきた。2016年7月に本事業部の親会社がコグネックスからアメテックに移り,「アメテック・サーフェースビジョン」という新しい事業ブランドの下で,新たに検査事業を展開することとなった。

近年,品質要求の高まりに応じて,欠陥検査システムは「検出能力の向上」「欠陥分類の高精度化」と発展を遂げてきた。また,欠陥位置でワインダーを自動停止できるワインダー支援装置や,欠陥検査システムとモニタリング装置の連携によるプロセス解析など,欠陥検査システムの周辺技術においても,さまざまなソリューションを提供してきた。

本稿では,当社の新しい検査システム「SmartView7.2(スマート・ビュー7.2)」を中心とした欠陥検査における最新の技術と欠陥検査システムの拡張性について紹介する。

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© 2016 紙パルプ技術協会
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