微小な剥離グラフェンシート上での長方形状パターンのSTM観察

抄録

グラフェン中に含まれる欠陥は、様々な領域で重要な役割を示す。そのため、局所的な欠陥の種類と電子状態の関係を正しく理解する必要がある。我々は、走査型トンネル顕微鏡を用いて、グラファイト表面に存在する、単層厚さの微小な剥離グラフェンシートを観察した。局所的な欠陥に起因する原子スケールの輝点配列が複数種類、存在することが分かった。特に、得られた長方形状のパターンに着目し、その起源について考察した。