薄板の電子ビーム溶接継手における残留応力特性

抄録

薄板の電子ビーム溶接時の温度測定および溶接後の残留応力測定を行い、残留応力の有限要素法解析の検証を行った。残留応力は従来知見と一致する結果となり、更に、止端部近傍の残留応力はビーム出力が大きいほど、またビーム径が焦点に近いほど圧縮側にシフトすることを把握した。また、伝熱解析・残留応力解析を行ったところ、いずれも実験結果と良い一致を得た。