軟X線を用いた触媒表面反応のオペランド計測

抄録

材料の機能発現メカニズムを解明するためには，動作中・反応中の材料を直接計測する「オペランド計測」が不可欠である。雰囲気X線光電子分光法（AP-XPS）は近年最も発展したオペランド計測法の1つであり，気体雰囲気中の材料表面の元素分析や化学結合状態分析を可能にした。本稿では，筆者らが開発した軟X線を用いた雰囲気X線光電子分光装置の概略を説明し，銅-亜鉛モデル触媒表面上の二酸化炭素の化学反応をオペランド計測した研究例を紹介する。また，将来展望としてナノテラスにおけるオペランド計測について述べる。