産業技術総合研究所ナノチューブ応用研究センター
2010 年 45 巻 1 号 p. 31-36
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有機分子の電子顕微鏡観察を行う場合,いちばんの障害が電子線ダメージであることは言を俟たない.とくに有機単分子の高分解能観察においては十分な感度と分解能を達成するために,極めて大きなドーズ量が必要となる.我々は試料固定法を工夫することで,電子線ダメージの二次的な拡散をできる限り抑えることを試みた.本稿では,単分子の高分解能観察に成功した数少ない例を紹介しながら,我々なりの電子線ダメージに対する見解や将来の方針などを議論する.
電子顕微鏡
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