近年，各種透過電顕法とComputed tomography（CT）とを組み合わせた電子線トモグラフィーが注目を集め結晶性材料の観察へ活発に応用展開されている．その展開の一つとして，回折コントラストを利用した電子線トモグラフィーによる格子欠陥の三次元構造解析が挙げられる．本稿では，回折コントラストを利用した格子欠陥の観察法の中でも特に転位のトモグラフィーに焦点を当て，その手法についての解説を行うと供に，暗視野法，走査透過電子顕微鏡法，超高圧電子顕微鏡法，dual-axis法を用いた転位のトモグラフィーについても紹介する．
