顕微鏡
Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958
特集：原子変位を観る
特集にあたって
平山 司, 木本 浩司
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キーワード: 原子変位, 収差補正STEM, 画像解析, 局所構造, ピコメーター
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2019 年 54 巻 1 号 p. 2

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