解説
サブオルガネラレベルの構造と機能をつなぐ光電子相関顕微鏡法のワークフロー
2020 年 55 巻 2 号 p. 83-89
詳細
2020 年 55 巻 2 号 p. 83-89
光－電子相関顕微鏡法（CLEM）は，光学顕微鏡と電子顕微鏡で同じ試料の同じ場所を観察し，両者の分解能のギャップを橋渡しする技術で，細胞内のサブオルガネラレベルの解析を要求される細胞生物学において重要な研究ツールになり得る技術である．CLEMには目的により様々な手法があり，また近年，走査型電子顕微鏡を用いたCLEM法が発達し状況が大きく変化している．本稿はCLEMの全体のワークフローを振り返り，目的別の手法と注意点をまとめた．
