著者所属:日本電信電話公社横須賀電気通信研究所 日本電信電話公社横須賀電気通信研究所
1980 年 46 巻 403 号 p. 276-283
(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)
(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)
ニッケルめっきを施した薄板ばね材料の疲労試験中の共振周波数の低下挙動から, めっき層の疲労強度と試験片の疲労過程を検討した. ワット浴による場合はめっき層の強度が低くその破壊により増大した母材の応力が, また半光沢浴の場合はめっき層の強度が比較的高くめっき層自体の疲労強度がそれぞれ試験片の疲労寿命を決定することを示した. まためっきにより疲労限度が低下する条件を, めっき層と母材の強度比と板厚比から検討した.
機械学會論文集
日本機械学會論文集
日本機械学会論文集C編
日本機械学会論文集B編
日本機械学会論文集A編
日本機械学会論文集 C編
日本機械学会論文集 B編
すでにアカウントをお持ちの場合 サインインはこちら