X線および中性子反射率測定による高分子単分子膜のナノ構造解析

抄録

測定は,嵩分子界面化学の基礎研究において必須の界面ナノ構造情報を与えてくれる。これにより,イオン性両親媒性高分子水面単分子膜や高分子電解質ブラシのナノ構造と,その鎖長,鎖長比,表面圧依存性など詳細を調査したところ,絨毯(じゅうたん)層の存在や塩濃度依存性など,その意外な特性が明らかとなった。毛利恵美子