高分子論文集
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陽電子消滅寿命測定およびフーリエ変換赤外スペクトロメトリーによる形状記憶ポリウレタン中の自由体積の平均サイズ, 数濃度の評価
伊藤 賢志, 李 洪玲, 阿部 光一郎, 氏平 祐輔, 石川 直元, 林 俊一
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1996 年 53 巻 11 号 p. 729-736

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抄録
陽電子消滅寿命測定法, フーリエ変換赤外吸収分光法により, 形状記憶機能を付与されたポリウレタン中の自由体積の平均サイズ, 数濃度, サイズ分布, および水素結合量の温度依存性について検討し, 形状記憶復元機構について考察した. 赤外吸収スペクトルの結果に示されたNHの伸縮振動のピークの温度変化から, DSCで得られたTg (40℃) から80℃にかけて水素結合が徐々に切断されていることがわかった. また, 特性吸収帯のバンド分解より, 動的粘弾性で得られたTgに対応する約50℃付近に水素結合に関与した特異点が存在することがわかった. 陽電子消滅寿命測定により, ガラス転移点付近におけるポリウレタン中の自由体積の平均サイズおよび相対的な数濃度の温度依存性について検討し, 自由体積の膨張率には顕著な変化が見られないが, 数濃度は水素結合量の形成に相関することを見いだした. これらの結果は, ソフトセグメント中のウレタン基周辺の環境の変化と強い相関があることを示唆し, 形状記憶回復のプロセスを説明する上で有用な知見となった.
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© 社団法人 高分子学会
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