光コムを利用したサブナノメートル測長技術の開発

レーザー研究

Online ISSN : 1349-6603
Print ISSN : 0387-0200
ISSN-L : 0387-0200

レーザー解説

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ジャーナルフリー

2011 年 39 巻 11 号 p. 842-846

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抄録

A length measurement system with sub-nanometer accuracy was developed. The system used the optical

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