解説
高分子分析における可視化・イメージング技術
キーワード:
高分子,
分析,
可視化,
メージング,
EPMA,
メージング FT-IR,
N-ARC,
3D/N-ARC,
FIB/SEML,
3D-TEM,
SPM
ジャーナル
フリー
2008 年
20 巻
1 号
p. 5-9
詳細
-
発行日: 2008/02/01
受付日: 2007/11/06
J-STAGE公開日: 2012/11/15
受理日: -
早期公開日: -
改訂日: -
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