半導体は1947 年,アメリカのBell 研究室で発明され,以降,用途の多用化,処理速度,処理量の要望に応じ進化,発展してきた。半導体の変遷はトランジスタの小型化と電子回路パターンの集積化の達成に依存する。1980 年代からはそれまでの微細化技術に加え,安価に大量に生産することが要求特性に組み込まれた。そのため,歩留まり対策として設備のクリーン化,シリコンの洗浄,材料の高純度化が求められるようになった。本論文では,はじめに半導体前工程における製造概略を述べ,ウェーハの洗浄,研磨,リソグラフィーの仕組み,エッジング,光源に分け,使用される材料を解析し,その効果を論じていく。