X線光電子分光法による高分子材料表面の測定と解析

抄録

X線光電子分光法 (XPS) は無機, 有機材料の表面における元素濃度および元素の化学状態を知ることのできる手法である。最近では, XPSスペクトルから, 結晶構造や分子の配向のような幾何学的構造に関する知見を得る試みもなされている。本稿では, 有機材料のXPSによる測定と解析における留意点を概説する。また微小領域のXPS測定, 気相化学修飾法および有機分子の配向に関する知見について最新の話題も紹介する。