研究紹介
「光らなかった」過程を測る
2016 年 85 巻 3 号 p. 223-227
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2016 年 85 巻 3 号 p. 223-227
これまで発光材料は発光測定で評価するのが当然とされてきた．その重要性は間違いないが，実用に耐える発光効率を目指すには，すでにうまくいっている光った過程の詳細を調べるよりも，むしろ「光らなかった」過程を特定して最小化するほうが理にかなっている．本稿では「光らなかった」過程，すなわち供給したエネルギーの散逸や損失を測定する手法を2通り紹介する．1つめは「光らなかった」過程を電気的に直接検出する方法，2つめは「光らなかった」過程を光った過程に転化して間接検出する方法である．特に「光らなかった」過程のダイナミクスは，原因特定や光った過程との競合を知る時定数の評価に役立つ．
