放射光による分析の極限
1986 年 55 巻 4 号 p. 389-396
詳細
1986 年 55 巻 4 号 p. 389-396
光ビームのなかでシンクロトロン放射光による分析の極限を概観した.検出下限が信号強度とバックグラウンドに依存するため,強力な放射光でバックグラウンドをおさえつつ試料を励起する方法の発展を論じた.偏光・全反射の利用でppbレベルの分析が可能であり,また,マイクロビームによる非破壊分析も可能である.その計画例と予測検出下限を紹介した.
