エレクトロベクトルセラミックスのナノ界面におけるCa²⁺の挙動

抄録

エレクトロベクトル効果がポーリングセラミックス表面近傍のカルシウムイオンにどの程度影響与えるかを半定量的に評価した。SBF中に存在するカルシウムイオンの濃度勾配は共焦点レーザー顕微鏡(オリンパスFV300)でライン分析した。SBF中のカルシウムイオンはポーリングHApセラミックスのN面近傍で濃度が高くなり、P面近傍では濃度が低いことが示された。この結果から、カルシウムイオンはN面側に引寄せられ、P面側では斥力が生じていることが確認された。