抄録
セラミックスの焼結体の不均質構造解析においては、SEMやTEM、薄片試料での光学顕微鏡観察(薄片透光法)が行われている。しかし、これらの手法では観察するサンプル量には限界があった。そこで本研究では、焼結体中の不均質構造を非破壊的に検知し、より多くのサンプルにおける不均質構造を定量的·統計的に把握した。超音波探傷法にて100個の試験片を測定した結果、71個の試験片に欠陥を検出した。全ての検出欠陥は、262個であった。検出した欠陥の寸法をX線差分処理法にて測定した結果、50∼150μmの欠陥が多いことが判った。もっとも大きい欠陥寸法は、668μmであった。
