日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集
第20回秋季シンポジウム
セッションID: 2L20
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原子間力顕微鏡による誘電体・強誘電体におけるナノスケールでの電気測定
*符  徳勝伊藤 満
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抄録
結晶粒子のサイズや粒子の界面は誘電体や強誘電体の酸化物の特性に大きな影響を与える。微視的にサイズ効果や粒界効果などへの理解は材料の設計や機能の創製に極めて重要である。近年原子間力顕微鏡技術の進展によりナノスケールで微視的な物性を究明することが可能となる。われわれはこの技術を利用し、ナノサイズの強誘電性測定、誘電体結晶内の欠陥界面及び多結晶体内における界面の電気応答の解明に成功してる。本講演ではこれらの研究結果を紹介する。
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©  日本セラミックス協会 2007
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