抄録
これまでの研究でSb2O3添加したZnOバリスタに対してアニールを施すと粒界や三重点に偏析するスピネル粒子の存在と課電劣化に深い関係があることが報告されている。しかし，アニールによってスピネル粒子へ及ぼす影響は詳しく調べられていない。本研究ではアニールによるスピネル粒子の組成やXRDパターンに生じる変化を詳細に調べた。アニールを施すことで既存のスピネル粒子の体積が大きくなるか，または新たにスピネル粒子が生成される事が示唆され，回折ピークの半値幅がアニール前と比較して広くなった。また，スピネル粒子内部でSbなどの組成分布が一様化した。以上の結果より，粒子内の組成が一様化するにも関わらず広い半値幅を持つことから，小さいサイズのスピネル粒子が新たに形成されることが示唆された。
