ジルコニアセラミックスの低温劣化に対する表面電荷の影響

抄録

本研究では、Y-TZPセラミックス表面の帯電状態と低温劣化により引き起こされる相転移との関係を分極したY-TZPセラミックスを用いて評価した。直流50V、200℃で分極すると、分極時間によらず陰極側のY-TZPの色が白から黒に変化した。これは、Y-TZP表面への電子の注入によるものだと考えられる。LTD試験の結果、異なる帯電条件にあるY-TZP表面間で相転移率が異なり、電極からの電子注入がLTD耐性に重大な影響を与えたことが示唆された。