平面パラレル型CMMの自己校正法

畠山 卓也; 古谷 涼秋

doi:10.11522/pscjspe.2006S.0.1067.0

2006年度精密工学会春季大会

セッションID: N20

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2006S.0.1067.0

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主催: 社団法人精密工学会

知的精密計測(3)

平面パラレル型CMMの自己校正法

*畠山卓也, 古谷涼秋

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キーワード: 自己校正, パラレルメカニズム, CMM

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抄録

パラレルメカニズはシリアルメカニズムに比べ,確立された校正方法が未だ数少ない.本報では,パラレル型CMM(平面パラレル型座標測定機)の自己校正法を提案し,製作した実機の校正結果を3次元座標測定機によって評価した.校正を行っていないパラレル型CMMと自己校正を行ったパラレル型CMMで機構パラメータの推定した結果を示し,3次元座標測定機の位置決めから自己校正法の有効性を報告する.

責任著者(Corresponding author)

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