精密工学会学術講演会講演論文集
2008年度精密工学会秋季大会
セッションID: C34
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チャネルドスペクトルを用いた膜厚計測法(第1報)
*大谷 幸利佐藤 悠生水谷 康弘
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抄録

薄膜や多層化された膜厚を計測するため分光干渉計に計測法を検討している.本研究は第1報として,チャネルドスペクトルを用いたフィッティング法によって屈折率,分散,吸収係数の解析を試みた.

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© 2008 公益社団法人 精密工学会
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