走査トンネル顕微鏡をベースにしたナノスケール評価手法の開発とその応用（キーノートスピーチ）

抄録

ナノ材料の評価手法として、走査トンネル顕微鏡(scanning tunneling microscopy: STM) をベースにした新しい計測システムとその応用について紹介する。特に有機材料・デバイスの局所領域での電荷輸送特性を評価するための、「独立駆動2探針STM」、ナノ材料からの発光特性を評価するための「トンネル電流誘起発光分析システム」に焦点をあて、有機材料の特異なナノ電子・光学物性を評価する。