偏光パターン投影による同軸三次元形状計測

抄録

一般的な三次元計測で知られるステレオ法では影ができる穴や溝などの形状は計測できない。また、パターン投影法の三次元計測では鏡面の形状を計測することはできない。そこで、空間光変調器(SLM)を用いて空間的に偏光を制御し偏光パターンを投影させ、画素ごとに方位が異なる偏光板が組み込まれた偏光カメラを同軸光学系に用いることで同軸リアルタイム三次元計測を提案し試みたので報告する。