精密工学会学術講演会講演論文集
2016 JSPE Spring Conference
セッションID: T68
会議情報

Phase sensitive CT measurement using a pixelated polarizing shearing interferometer
*セラノ ダビット大谷 幸利
著者情報
会議録・要旨集 フリー

詳細
抄録
A lateral shear interferometer using polarizing pixelated camera is implemented. By obtaining measurements at different angles of rotation a 3D distribution of a static sample can be obtained.
著者関連情報
© 2016 The Japan Society for Precision Engineering
前の記事 次の記事
feedback
Top