偏光カメラを用いた微分干渉顕微鏡による断層動画計測

大谷 幸利; 柴田 秀平; 高野 航; Nathan Hagen

doi:10.11522/pscjspe.2017A.0_951

2017年度精密工学会秋季大会

セッションID: P04

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2017A.0_951

会議情報

主催: 公益社団法人精密工学会

会議名: 2017年度精密工学会秋季大会

開催地: 大阪大学

開催日: 2017/09/20 - 2017/09/22

偏光カメラを用いた微分干渉顕微鏡による断層動画計測

*大谷幸利, 柴田秀平, 高野航, Nathan Hagen

著者情報

キーワード: 微分干渉顕微鏡, 偏光カメラ, 断層計測

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抄録

現在，生体を染色せず生体を可視化したいとい要求がある．微分干渉顕微鏡は生体材料や工業製品などのコントラストを高めて可視化できるが，定量化かしにくいという問題があった．本報告では，画素ごとに偏光板が組み込まれた偏光カメラを用いて，微分干渉像を高感度化，高解像力およびリアルタイム計測を試みたので報告する．

責任著者(Corresponding author)

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