CT値の解析的微分によるCTボリュームからの高精度な表面抽出法

抄録

ものづくりにX線CTスキャンを導入するうえで、計測物の表面形状をCTボリュームから精度よく抽出することは必須の技術である。高精度な表面抽出法である可変閾値処理は、CT値の勾配ノルム極大曲面で計測物表面を定義する。勾配は通常、ボクセル集合であるCTボリューム上で離散近似的に計算されるが、本稿では、サイノグラム値の解析的微分を用いて算出した勾配を用いることを提案し、精度が向上したことを報告する。