プローブへの自己組織化単分子膜形成と表面力測定への応用

長橋 和人; 小林 隼人; 長谷川 真之; 島 和義; 金田 恵輔; 金子 新

doi:10.11522/pscjspe.2019S.0_824

2019年度精密工学会春季大会

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2019S.0_824

会議情報

主催: 公益社団法人精密工学会

会議名: 2019年度精密工学会春季大会

開催地: 東京電機大学

開催日: 2019/03/13 - 2019/03/15

プローブへの自己組織化単分子膜形成と表面力測定への応用

*長橋和人, 小林隼人, 長谷川真之, 島和義, 金田恵輔, 金子新

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キーワード: 表面力, 接着, 表面粗さ, 表面自由エネルギ

会議録・要旨集フリー

p. 824-825

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抄録

プローブ型表面力測定装置を用いて2表面間の表面力評価を試みている．本報告では同装置で表面自由エネルギの異なる2種類のプローブを用いた表面力評価手法を提案している．プローブ表面にSAMを修飾することで表面自由エネルギの異なる2種類のプローブを作製し，真空中で表面力を測定した．プローブの表面自由エネルギは63.7mJ/m²から24.6mJ/m²に変化し，同一試料に対する表面力は最大で57.5μＮ低下した．

責任著者(Corresponding author)

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