抄録
本稿では電子機器の信頼性試験全般について規定したIEC 600300-3-5およびその下位規格に当たるIEC 60605シリーズについて概説する.特に, IEC 60605-2の「試験サイクル計画」の内容を具体的に紹介する.この規格で規定されている論理的な試験計画の手順は, 要求増加の勢いを見せている複合ストレス試験を計画する際に利用できるものである.また, ISO/DIS 9001:2000における設計・開発の検証や妥当性の確認, あるいは是正処置や予防処置を遂行するための手段の一つとして信頼性試験が位置付けられることを示し, 生きた品質マネジメントシステムを導く一助となることを述べた.
