電子部品のPPM不良率とFIT故障率

公開日: 2018/02/26 | 21 巻 1 号 KJ00002020129

藤川 忠重

Excelによる確率紙の書き方(2) : パソコンによるデータ解析実践講座(3)

公開日: 2018/03/02 | 19 巻 5 号 p. 328-339

鹿沼 陽次

半導体の合理的・効率的な加速寿命試験の考え方

公開日: 2018/02/26 | 22 巻 3 号 p. 188-196

三橋 順一

セッション4-2 非正規分布における半分のサンプルのみを用いた片側規格に対する新しい工程能力指数(Cph)の提言(信頼性・品質3学会合同シンポジウム)

公開日: 2018/02/26 | 24 巻 8 号 p. 813-816

濱口 勝重, 稲葉 太一, 吉田 節

半導体デバイスの静電気破壊現象

公開日: 2018/02/26 | 22 巻 1 号 p. 51-59

福田 保裕