半導体 LSI の信頼性予測・推定の実際

公開日: 2022/01/13 | 40 巻 6 号 p. 360-367

瀬戸屋 孝

電子部品の不再現現象と故障メカニズム

公開日: 2019/12/02 | 40 巻 3 号 p. 141-147

佐藤 博之

リチウムイオン電池の信頼性と安全性について

公開日: 2019/12/02 | 40 巻 4 号 p. 196-203

神山 敦

2-1 効率的・合理的な信頼性試験の検討(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)

公開日: 2018/01/31 | 26 巻 5 号 p. 455-456

田原 信之

半導体の合理的・効率的な加速寿命試験の考え方

公開日: 2018/02/26 | 22 巻 3 号 p. 188-196

三橋 順一