抄録
電子機器の故障の原因である電極間のイオンマイグレーション(以下マイグレーションと略す)の評価法として、水晶振動子マイクロバランス(QCM)法を適用し、鉛フリーはんだのマイグレーション成長過程をSn-Pb系はんだと比較検討した。その結果、マイグレーションの発生時間はその析出形態に関係しており、Sn-Pb系は直線的な成長をするため発生時間は早く、鉛フリーはんだは平面的成長を示すため、電極間の短絡までの析出量が多く必要となり、発生時間が遅い傾向がある。このことにより、鉛フリーはんだは耐マイグレーション性に優れていることがわかった。
