2-3 セル内故障箇所の特定 : スイッチングレベルシミュレーションを用いた診断(セッション2 試験・LSIの故障解析(1),第17回秋季信頼性シンポジウム)

抄録

LSIを構成する基本的論理であるセルの故障診断方式を開発したので報告する。診断対象とするセルは組合せ回路である。診断はレイアウト情報を用いてI_<DDQ>故障が発生する可能性のある箇所を故障候補として抽出し、その後、これらの候補を回路に埋め込むことでスイッチングレベルシミュレーションを実施する。そして出力された論理と実際の出力論理値と一致する候補を確度の高い故障候補として特定する方式である。