システム制御情報学会 研究発表講演会講演論文集
第50回システム制御情報学会研究発表講演会
セッションID: 4W4-3
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製品検査における1クラスSVMのパラメータ調整手法
クラスタ形状の分析によるガウスカーネルパラメータの選択
*糀谷 和人田崎博 博中嶋 宏
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キーワード: 製品検査, 学習, パタン識別
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抄録
製品検査に1クラス判別アルゴリズムを適用するには、量産前に得られる少数の良品データから判別モデルを学習する必要がある。1クラスSVMは少数サンプルでも学習可能であるが、ガウスカーネルの幅を大きくしすぎると見逃しが多くなり、小さくしすぎると見すぎが多くなる。本稿では、判別モデルのクラスタ形状を評価することで適切なガウスカーネルのパラメータを選択する手法を提案する。
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© 2006 システム制御情報学会
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