生産研究
Online ISSN : 1881-2058
Print ISSN : 0037-105X
ISSN-L : 0037-105X
研究速報
Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) :Study of the Optical Feedback Effect in VCSELs
Sabry KHALFALLAH, Dominique BOUCHON, Satoshi FUKUDA, Christophe GORECKI, Michel SPAJER, Hideki KAWAKATSU, Hiroyuki FUJITA, Yasuhiko ARAKAWA
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1999 年 51 巻 8 号 p. 630-633

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© 1999 Institute of Industrial Science The University of Tokyo
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