酸化チタン光触媒粒子リスク評価のための個別粒子分析

抄録

　TiO₂光触媒粒子の精密なリスク評価のために,走査型電子顕微鏡一電子線励起x線分析とシンクロトロン放射光励起の粒別XAFS分析を複合した個別粒子の形状・結晶構造分析手法を開発した。市販の光触媒商品,光触媒スプレーおよび液状の光触媒配合化粧品の粒子に対して,粒子のTiK端XFASスペクトルを測定し,それぞれルチル型TiO₂粒子,アナターゼ型TiO₂粒子から構城されていることを明らかにし,リスク評価に必要なデータを取得することが可能になった。