コヒーレント回折 XAFS 計測法の高度化および実触媒粒子内の電子状態分布解析への応用

抄録

　Kirkpatrick-Baez（KB）ミラーや Fresnel zone plate（FZP）等のＸ線光学素子を用いた走査型および結像型 XAFS イメージング法による空間分解能は、Ｘ線光学素子の集光性能あるいは結像性能により 30 nm 程度に留まっている。我々は、より高い空間分解能をもつ XAFS イメージング計測法として、コヒーレント回折イメージング法を応用したコヒーレント回折 XAFS 計測法の開発に取り組んでいる。本課題では、2013B 期のビームタイムで明らかになった問題点を改良し、触媒単粒子試料に対するコヒーレント回折 XAFS 計測を試みた。本報告では計測で得られた結果、課題と今後の計画について報告する。