小角Ｘ線散乱による硬化過程におけるセメント粒子の挙動観察

抄録

　コンクリートの硬化に伴う強度発現のメカニズムの解明を目的として、セメントの硬化過程でのナノメートルオーダーで生じる構造変化を小角散乱法により観察した。カメラ長を 3 m および 40 m とし、Ｘ線のエネルギーは 18 keV とした。実験の結果、q が 0.01 nm⁻¹ より小さい領域と、0.1 nm⁻¹ における散乱プロファイルに時間依存性が確認された。これらの変化は、セメントと水による水和反応に起因するものと考えている。