屈折レンズを利用したマイクロビーム小角散乱測定の検証

抄録

　高分子材料の局所領域における構造評価を実施するために、屈折レンズによるＸ線の微小化および小角Ｘ線散乱測定による評価を行った。従来、利用していたピンホールで光をコリメートするマイクロビームでは Φ 8 µm 程度のＸ線であったのに対し、3 x 2 µm 程度のＸ線を利用することができた。また、フォーカス距離が十分に長い屈折レンズを利用し、2 m のカメラ距離を確保することで、小角分解能を確保することができた。