ハードＸ線レーザーのコヒーレンス制御とその応用

抄録

　Ｘ線自由電子レーザー (XFEL) 励起内殻電子ハードＸ線レーザーのスペクトル制御を行い、その得られた特徴あるパルスレーザー構造を利用してポンププローブ計測を行った。一般にこういった計測では周波数間隔と全体のスペクトル幅の比が重要になる。Kα 線の場合は利得スペクトル幅で決まる有効なスペクトル幅が制限されてしまうことが起きていたが、XFEL の強励起を行うことで得られる赤方シフト領域にも、この周波数フリンジを外挿できることが分かった。また、これを利用したポンププローブ実験として Co の透過に対するフリンジ変化の観測も行った。