ナノダイヤモンドをプローブとした回折Ｘ線追跡法によるエポキシ樹脂の不均一性解析

抄録

　エポキシ樹脂の硬化過程で生じる内部の不均一性を直径 10 nm のナノダイヤモンド (ND) をプローブとした回折Ｘ線追跡 (DXT) 法を用いて検討した。DXT から得られた ND の平均回転拡散係数は、硬化の進行とともに低下したことから、ND をプローブとした DXT が、エポキシ樹脂の硬化過程を追跡するために有効なツールであることが分かった。ND の回転拡散係数の分布の硬化時間に対する変化は、重合による架橋構造の形成と架橋の高密度化が段階的に進行することを示した。