小角/広角Ｘ線散乱を用いた米飯のナノスケール構造解析とその時間変化

抄録

　温度制御下で米飯一粒の時間変化を連続的に追跡することができる米粒専用サンプルチェンジャーを用いて、小角および広角散乱同時分析法により、米一粒定点の経時変化を測定した。米飯の経時変化に伴い低下する品質を、六方晶の澱粉Ｂ型結晶ピークを用いて Avrami 指数で表した。澱粉老化挙動のその場観察を実現したことは、個体差が大きい米飯などの食品において、調理と保存による構造変化を分子レベルで議論することに繋がる。