抄録
シリコン（Si）を含む負極（Si系負極）において、1度充電すると次の放電以降の電池容量が減少するいわゆる不可逆容量の問題があり、その原因と解決策を探るため、放射光を用いた分析手法として粉末X線回折（XRD、課題番号2011B4511）および硬X線光電子分光（HAXPES、課題番号2011B4605）の適用試験を行った。その結果、XRD実験では初回充電でSi系負極中のSiナノ結晶が破壊される状況を捉え、HAXPES実験ではSi中にリチウム（Li）が侵入し化学状態が変化している可能性を観測した。
